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20

2024

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Instrumento de experimento de principio láser de bombeo de semiconductores LGT-5


Este dispositivo experimental utiliza el láser de bombeo de semiconductores Nd:yv04 de 808nm como objeto de investigación. Al construir todo el sistema experimental, se completa cada parte del experimento, para aprender el método de depuración del láser de bombeo de semiconductores, observar el fenómeno de duplicación de frecuencia, medir el umbral, la coincidencia de fase y otros métodos de prueba experimentales; profundizar la comprensión de teorías básicas como el principio del láser y la tecnología de multiplicación óptica, y darse cuenta de la combinación de teoría y práctica; en comparación con productos similares, este instrumento experimental tiene más funciones, puede abrir más contenido experimental, estructura mecánica estable y fácil de depurar, experimentación Características como una gran operatividad práctica.

Este dispositivo experimental utiliza el láser de bombeo de semiconductores Nd:yv04 de 808nm como objeto de investigación. Al construir todo el sistema experimental, se completa cada parte del experimento, para aprender el método de depuración del láser de bombeo de semiconductores, observar el fenómeno de duplicación de frecuencia, medir el umbral, la coincidencia de fase y otros métodos de prueba experimentales; profundizar la comprensión de teorías básicas como el principio del láser y la tecnología de multiplicación óptica, y darse cuenta de la combinación de teoría y práctica; en comparación con productos similares, este instrumento experimental tiene más funciones, puede abrir más contenido experimental, estructura mecánica estable y fácil de depurar, experimentación Características como una gran operatividad práctica.

Comprender y dominar el principio del láser de bombeo de semiconductores y el método de ajuste de la trayectoria óptica

Domine la tecnología de multiplicación de frecuencia en la cavidad y comprenda la importancia de la tecnología de multiplicación de frecuencia

Dominar el método de medición de parámetros básicos como umbral y coincidencia de fase

Domine la medición del ángulo de divergencia del láser y el tamaño del punto