Inicio
Productos
Instrumentos experimentales de física universitaria
Instrumento de análisis de aplicaciones espectrales
Mecánica cuántica
Solución
Historia
Servicios
Servicios de preventa
Servicio post-venta
Noticias
Noticias de la compañía
Noticias de la industria
Sobre nosotros
Perfil de la empresa
Matrícula de honor
Estilo empresarial
Concepto de talento
Contacto
Datos de contacto
Mapa de la empresa
中文版
English
española
Русский
العربية
TECNOLOGÍA DE EPSSION
Optoelectrónica láser
Síntesis moderna
Espectrómetro de rejilla
Difracción de interferencia polarización
Características de los componentes optoelectrónicos
Holograma óptico
Medición óptica
Comunicación de información de fibra óptica
Plataforma de fuente de luz de accesorios
Demostración del producto
/Soluciones de instrumentos ópticos especializados
Serie óptica
Serie de fuente de luz
Serie de componentes ópticos
Serie de accesorios experimentales
Serie de plataformas ópticas
Serie térmica
Serie de mecánica
Serie de electromagnetismo
Serie de experimentos innovadores
Serie de espectrómetros infrarrojos de Fourier
Serie de espectrofotómetros fluorescentes
Serie de espectrómetros de infrarrojo cercano
Espectrómetro Raman microscópico
Computadora cuántica
Probador de potencia óptica YCL-6
El probador de potencia óptica utiliza un tubo PIN de alta calidad como receptor óptico, que aumenta la sensibilidad del instrumento para detectar radiación óptica en 0.1μW. Se puede utilizar como indicador de detección de potencia óptica en el rango de banda de 400nm-1100nm. El instrumento está configurado para corresponder a 514nm, 532nm, 632,8 nm, 650nm cuatro salidas de corrección de luz de longitud de onda.
Medidor de espesor de película YCL-13
Este medidor de espesor de película delgada se desarrolla de acuerdo con el principio de coherencia del espectro de reflexión múltiple. Este instrumento puede proporcionar una medición sin contacto del grosor de la película, el índice de refracción, el coeficiente de absorción, etc., utilizando la última versión del software, que tiene las ventajas de una medición precisa a nanoescala y un uso conveniente; La conveniencia y precisión de la medición son mejores que los elípticos ópticos comúnmente utilizados. Es un instrumento de investigación de medición indispensable para la investigación de recubrimientos, recubrimientos ópticos y producción de semiconductores.